ศูนย์วิเคราะห์และวิจัยโครงสร้างจุลภาค

อาคารปฏิบัติการและวิจัย (อาคาร 4) ชั้น 5

1. กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
(Transmission Electron Microscope)

รุ่น : JSM-1400
ผู้ผลิต : JEOL Ltd.,Tokyo, Japan
รหัสครุภัณฑ์ : DT-53-041-12
สมบัติเฉพาะ : ใช้ศึกษารายละเอียดองค์ประกอบภายในของ
ตัวอย่าง เช่น องค์ประกอบภายในเซลล์ โครงสร้างผลึกของ
วัสดุ ฯลฯ สามารถแจกแจงรายละเอียดของภาพแบบลายเส้น
ได้ 0.2 นาโนเมตรหรือดีกว่า มีกำลังขยายได้ต่ำสุด 50 เท่า
สูงสุดได้ไม่น้อยกว่า 800,000 เท่า ความต่างศักดิ์เร่างปรับได้ตั้งแต่ 10-120 กิลโลโวลต์

2. กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning Electron Micriscope)

รุ่น : JSM-6610LV
ผู้ผลิต : JEOL Ltd.,Tokyo, Japan
รหัสครุภัณฑ์ : DT-53-041-1
สมบัติเฉพาะ : ใช้ศึกษาโครงส้รางภายนอกของวัตถุ ลักษณะผิว
ภายนอกของเซลล์ ผิวโลหะ มองเห็นความลึกภาพปรากฏบน
จอคอมพิวเตอร์เป็นภาพ 3 มิติ แสดงภาพจากสัญญาณ Secondary
electron, Backscattered electron และX-rays detector หรือ
เทคนิค Energy Dispersive Spectroscopy, EDS ซึ่งสามารถ
รองรับงานการศึกษาสภาพพื้นผิวของตัวอย่างทางวิทยาศาสตร์
ชีวภาพ วิทยาศาสตร์กายภาพ และวัสดุศาสตร์ทั้งที่ผ่านการเคลือบ
และไม่เคลือบด้วยโลหะ การวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีของวัสดุ
ผู้รับผิดชอบ : นางสาวชญาดา เทียนไชย

3. เครื่องตัดชิ้นเนื้อชนิดบางพิเศษ (Ultramicrotome)

รุ่น : Boeckeler Instrument Power Tome XL
ผู้ผลิต : RMC Products, United States
รหัสครุภัณฑ์ : DT-53-046
สมบัติเฉพาะ : เป็นเครื่องสำหรับตัดตัวอย่างบางพิเศษ เพื่อใช้ในการศึกษาด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบลำแสงส่องผ่าน โดยตัดได้อย่างน้อยตั้งแต่ 5 นาโนเมตร ถึง 9,999 นาโนเมตร โดยตั้งค่าละเอียดได้ครั้งละ 1 นาโนเมตร ใช้งานได้ทั้งแบบมือหมุนและแบบอัตโนมัติควบคุมด้วยมอเตอร์ใช้ได้ทั้งมึดแก้วและมีดเพชร
ผู้รับผิดชอบ : นายอนุชา ซาเจริญ

4. เครื่องฉาบผิวตัวอย่างด้วยโหละหนัก (Sputter Coater)

รุ่น : SC7620
ผู้ผลิต : Quorum Technologies Ltd, England
รหัสครุภัณฑ์ : 409000009301
สมบัติเฉพาะ : ใช้ปรับสภาพตัวอย่างให้นำไฟฟ้า โดยใช้ ion ของโลหะหนัก(gold-Pd)
ฉาบบนผิวตัวอย่างตัวอย่าง สำหรับใช้กับงานกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
ผู้รับผิดชอบ : นางสาวชญาดา เทียนไชย

5. เครื่องฉาบผิวตัวอย่างด้วยโหละหนัก (Sputter Coat Coater)

รุ่น : SPI Supplies
ผู้ผลิต : Structure Probe, Lnc. West Chester, USA
รหัสครุภัณฑ์ : 409000009301
สมบัติเฉพาะ : ใช้ปรับสภาพตัวอย่างให้นำไฟฟ้า โดยใช้ ion ของโลหะหนัก
ฉาบบนผิวตัวอย่างตัวอย่าง สำหรับใช้กับงานกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
ผู้รับผิดชอบ : นางสาวชญาดา เทียนไชย

6. เครื่องทำแห้งตัวอย่าง ณ จุดวิกฤต (Critical Point Dryer)

รุ่น : QUO-1 EK3150
ผู้ผลิต : Quorum Technologies Ltd, England
รหัสครุภัณฑ์ : 409000009470
สมบัติเฉพาะ : ใช้ปรับสภาพตัวอย่างทางชีววิทยาให้แห้ง
ณ อุณหภูมิวิกฤตของ Liquid Co2 หลังจากผ่านขั้นตอน
การ Dehydration มาแล้ว
ผู้รับผิดชอบ : นางสาวชญาดา เทียนไชย

7. เครื่องตัดชิ้นตัวอย่าง (Low Speed Saw)

รุ่น : IsoMetTM Low Speed Saw
ผู้ผลิต : Buehler, United States
รหัสครุภัณฑ์ : บ-54-001
สมบัติเฉพาะ : เหมาะสำหรับชิ้นงานขนาดเล็ก ออกแบบสำหรับการใช้งาน
ในปริมาณไม่มาก ความเร็วต่ำและโหลดต่ำ ตัดตัวอย่างได้หลากหลาย
เช่น โลหะ คอมโพสิต โพลิเมอร์ ฟันและกระดูก และมีอุปกรณ์
ที่สามารถจับยึดตัวอย่างได้หลายรูปแบบ ปรับระยะในการตัดด้วยไมโครมิเตอร์
ผู้รับผิดชอบ : นางสาวชญาดา เทียนไชย